Тестирование материалов и чипов

Физические характеристики микроэлектронных чипов

Ecopia

Измерительные станции для тестирования электрических, тепловых и оптических характеристик полупроводниковых приборов и чипов, измерения эффекта Холла

Ecopia
HMS

HMS

Системы на основе эффекта Холла серии HMS для измерения концентрации и подвижности носителей заряда и удельного сопротивления

EPS

EPS

Зондовые станции серии EPS для контроля электрических параметров полупроводниковых приборов.

ETCP-2000

ETCP-2000

Зондовые станции для контроля электрических параметров образцов в вакууме

Top