Плазмохимическое травление, осаждение, плазменно-стимулированное атомно-слоевое травление и осаждение
Ионно-лучевое травление и осаждение
Установка плазмохимического травления RIE-H150 реализует процесс реактивного ионного травления или РИТ (в английской литературе - Reactive Ion Etching или RIE) с использованием плазмы ёмкостного разряда. Предназначена для травления слоев Si, SiNx, SiO2 и других материалов с использованием F-содержащих газов. Идеально подходит как для исследовательских задач, так и для мелкосерийного производства.
Оборудование поставляются заказчику с предустановленными технологическими рецептами из стандартной библиотеки производителя. Возможна демонстрация или отработка техпроцесса по требованиям заказчика в технологической лаборатории производителя.
Основные особенности
Реактивное ионное травление является разновидностью процесса сухого травления, в котором существенной составляющей процесса является ионная бомбардировка поверхности травимого материала. С 80-х годов стандартной конфигурацией РИПТ (реактивное ионно-плазменное травление) для приложений микроэлектронных технологий является емкостный высокочастотный разряд между параллельными электродами (сapaсitively coupled discharge). Подложка размещается на электроде, к которому подводится ВЧ напряжение. Разрядная камера и второй электрод заземлены. Для подачи реакционных газов в зону разряда используется подвод газа через т.н. газовый душ в верхнем, заземленном, (?) электроде. При зажигании ёмкостного разряда, происходит разложение газовой смеси на электроны, ионы и активные радикалы. Анизотропия травления обеспечивается ускорением ионов в направлении подложки при прохождении слоя пространственного заряда у поверхности электрода. При соответствующем выборе параметров разряда, может быть осуществлен также режим близкий к изотропному травлению. Возможна работа установки в режиме травления физическим распылением (ионное травление или ion etching) с использованием инертных газов в качестве рабочей среды газового разряда.
| Характеристика | Значение |
| Максимальный размер подложки | 150 мм |
| Диапазон температур | 10 - 20 oС |
| Подача гелия под подложку для улучшения теплового контакта | есть |
| Прижим подложки | механический |
| Возбуждение плазмы | RIE 600 Вт 13,56 МГц |
| Линий подачи технологических газов | 6 |
| Спектроскопия плазмы | опционально |
| Плазменная очистка камеры между процессами | есть |
| Вакуумная система рабочей камеры | ТМН на магнитном подвесе 600 л/сек, сухой форвакуумный насос 160 м3/ч |
| Предельное давление в рабочей камере | ≤4∙10-5 торр |
| Диапазон давлений технологического процесса | 6÷100 мторр |