Надежные средства откачки для производства микроэлектроники
Hiden AutoSIMS - это автономный, автоматизированный ВИМС (Secondary Ionization Mass Spectrometry, SIMS) инструмент для текущего и итеративного анализа поверхности методами масс-спектрометрии вторичных ионов и вторичных нейтралей. Идеально подходит для исследования тонких пленок, анализа загрязнений и примесей верхнего монослоя толщиной в несколько микрон как в проводящих так и в не проводящих материалах.
Образцы загружаются с помощью модульного кассетного держателя и позиционируются посредством прецизионного столика с компьютерным управлением. Ионная пушка с высокой стабильностью пучка и аналитические рецепты обеспечивают работу системы в полностью автоматическом режиме. Вывод и передача результатов осуществляется в пользовательском формате или формате электронной таблицы. Благодаря простой электронной таблице можно определить положение анализа и тип используемого рецепта, что также позволяет оператору без особых усилий скомпилировать сложную экспериментальную матрицу.
Для опытных исследователей доступен полный спектр SIMS и SNMS параметров, что позволяет использовать прибор AutoSIMS в качестве мощного исследовательского инструмента, обеспечивающего высокое разрешение по глубине анализа образца при невысоких эксплуатационных расходах.
Основные достоинства AutoSIMS:
Параметр |
Значение |
Диапазон масс |
50, 300, 510 аем |
Минимально детектируемая концентрация элемента |
ppm |
Метод SIMS – Secondary Ion Mass Spectrometry |
есть |
Возможности анализа вторичных ионов |
положительно заряженные ионы |
Метод SNMS – Secondary Neutral Mass Spectrometry |
опционально |
Разрешение по глубине |
3 нм |
Минимально детектируемая концентрация (B в Si) |
1017 атомов см-3 |
Минимально детектируемая концентрация (SNMS) |
1% |
Перемещение образца |
автоматическое X-Y |